信(xìn)息摘要:
雷達液(yè)位計是通過向(xiàng)被測介質發(fā)射電磁波,發射後的電磁波遇到介質被反射(shè)回來,通過時間擴展技術原理,計算出(chū)電磁波發射和接收的時間間(jiān)隔,從而…
雷達液位計
是通過向被測介質發射電磁波,發射後的(de)電磁波(bō)遇到介質被反射回來,通過時間(jiān)擴展技術原理,計算出電磁波發射和接收的時(shí)間(jiān)間隔,從(cóng)而進一步推算出(chū)天(tiān)線到被測介(jiè)質表麵的距離。可見,雷達液位計能否順利發射出電(diàn)信號對於液位(wèi)測量就顯得頗為關鍵。但在我們日常工作中,信號被幹擾的現(xiàn)象時有發生。那麽,導致雷達液位計信號異常的幹擾因素都(dōu)有哪些呢?
通過對導致雷達液位計的(de)信號異常的因素進行分析發現,產生幹擾的(de)原因有很多,幹擾源也多種多樣。但總體而言(yán)可以分為兩類:一類是內部幹擾,另一類是外部幹擾。
一、外部幹擾
1、天體、天電幹擾(rǎo)
天體就是指太陽或是其他的恒星,因此(cǐ)天(tiān)體幹擾指的就是它們發出的電(diàn)磁波對雷達液位計發(fā)出的信號產生了一定的幹擾。
但對於天電這個術語,大家普遍感(gǎn)到陌生。其實(shí),所謂天電,可以將其理解為由大氣、雷電等電離作用(yòng),或是火山(shān)、地震等自然現象產生的電磁波對雷(léi)達液位計的信號產生的幹擾。
2、光(guāng)幹擾
光的(de)幹擾主要在於半導體部件。在用(yòng)來控製儀表的部件(jiàn)當中,多由半(bàn)導體(tǐ)材料製成(chéng),而半導體元件在受到光的影響後,其導電性能就會改變,這樣一(yī)來,就會影響雷達液位計的正常使用。
3、熱(rè)幹擾
火電廠作業過程中(zhōng),其熱力設備會產生大量的熱量,這些熱(rè)量會引起周圍儀器以及環境溫度的變化(huà),這也就是我(wǒ)們所說的熱幹擾。這(zhè)些幹擾(rǎo)會(huì)對雷達液位(wèi)計的(de)元件產生影響,進一步導致測量不精確(què)等問題的出現。
4、濕度幹(gàn)擾
當濕度升高,就會引(yǐn)起絕緣體電阻下降、電介質介電數增(zēng)加、骨架蓬鬆、電阻增加,進而也就(jiù)產生漏電流(liú)增加、電容(róng)量增加、電感器變化等。此外還會使膠質(zhì)變(biàn)軟,測量精也會(huì)下降。
5、機械(xiè)幹擾(rǎo)
所謂機械(xiè)幹擾,是指由於外部機器的大幅震動或衝擊(jī),影響(xiǎng)到雷達液位計,使(shǐ)雷達液位計內部的一些元件同樣發生震動甚(shèn)至是移位(wèi)、變形,也可能使儀表頭(tóu)指針鬆動,使測量產生誤差,對於這(zhè)種情況我(wǒ)們通常加以隔板(bǎn)、減震彈(dàn)簧等來緩解衝擊。
6、化學幹擾
化學幹擾通常是指一些具有腐蝕性的(de)氣體,例如(rú)酸、堿等,這些氣體長時間的作用,不僅僅會損壞儀器及內部(bù)元件,還會與金屬作用導電,影響雷達液位計的正常工作。
二、內部幹擾
幹擾不僅(jǐn)僅來自於外部,也來自於雷達液位計內部。例(lì)如其中的導線、電源變壓器電子元件之間的電感、電容等所產生的幹擾,此(cǐ)外,內部元件還會(huì)產生噪聲幹(gàn)擾。如(rú)今,大部分(fèn)的雷達(dá)液位計經改進後,由於采用了高頻率微(wēi)波技術,使液位計的性(xìng)能大為改善,幹擾也隨之降低(dī)。